電磁兼容測(cè)試儀器-電磁兼容測(cè)試-威闊檢測(cè)(查看)

靜電放電抗擾度試驗(yàn)

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

IEC 61000 - 4 - 2

EN 61000 - 4 - 2

GB/T 17626.2

試驗(yàn)?zāi)康?/p>

模擬操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)放電及人或物體對(duì)鄰近物體的放電，以考察被試設(shè)備抵抗靜電放電干擾能力。前者是通過(guò)導(dǎo)體直接耦合，屬于直接放電影響。 后者是通過(guò)空間輻射耦合，屬于間接放電影響。

試驗(yàn)設(shè)備

靜電脈沖發(fā)生器

試驗(yàn)等級(jí)（嚴(yán)酷度等級(jí)）

試驗(yàn)原理

靜電放電電流的典型波形

靜電放電電流的典型波形參數(shù)

臺(tái)式設(shè)備實(shí)驗(yàn)室配置圖

立式設(shè)備實(shí)驗(yàn)室配置圖

試驗(yàn)環(huán)境條件

環(huán)境溫度：15 ~ 35 ℃

相對(duì)濕度：30 ~ 60 %

大氣壓力：86~106 kPa

試驗(yàn)的實(shí)施

接觸放電使用尖形放電電極，空氣放電使用圓形放電電極；

優(yōu)先采用接觸放電；

直接放電試驗(yàn)，放電電極直接對(duì)被試設(shè)備進(jìn)行放電試驗(yàn)。試驗(yàn)對(duì)象包括用戶在使用中可能觸及到的任何地方以及在帶電維護(hù)和校正時(shí)可能觸及的地方。如：金屬簧i片、機(jī)殼、機(jī)框、按 鍵、螺絲、指示燈、開關(guān)等；

間接放電試驗(yàn)可對(duì)水平耦合板和垂直耦合板進(jìn)行放電；

試驗(yàn)速率 1 次/s，每個(gè)放電點(diǎn)至少在正負(fù)極性各放電10 次。

試驗(yàn)結(jié)果判定

a. 在試驗(yàn)過(guò)程中，設(shè)備的工作完全正常 設(shè)備的工作完全正常。

b. 在試驗(yàn)中，設(shè)備受干擾影響產(chǎn)生了暫時(shí)性的功能降低，但撤消干擾后，設(shè)備的功能可

以自動(dòng)恢復(fù)正常。

c. 在試驗(yàn)中，設(shè)備受干擾影響產(chǎn)生了暫時(shí)性的功能降低，電磁兼容測(cè)試方案，但干擾撤消后，設(shè)備的功能需

要人工復(fù)位后方能恢復(fù)。

d. 在試驗(yàn)中，受干擾的設(shè)備產(chǎn)生了不可逆轉(zhuǎn)的損傷，包括元器件的損傷 、軟件或數(shù)據(jù)

丟失等。

對(duì)于情形a、b，判為合格。

對(duì)于情形c、d，判為不合格。

輻射騷擾場(chǎng)強(qiáng)

設(shè)備端口

電場(chǎng)天線

磁場(chǎng)天線

根據(jù)麥克斯韋方程，變化電場(chǎng)產(chǎn)生變化磁場(chǎng)，變化磁場(chǎng)產(chǎn)生變化電場(chǎng)。

設(shè)備內(nèi)每個(gè)電路都可能是等效磁場(chǎng)天線，電磁兼容測(cè)試儀器，機(jī)殼和電纜都可能是等效電場(chǎng)天線的一部分。

輻射騷擾測(cè)量范圍

30MHz～18GHz，測(cè)量電場(chǎng)（E）

1GHz以下，開闊場(chǎng)地或半電波暗室，半自由空間。

1GHz以上 全電波暗室，模擬自由空間。

9KHz ～30MHz，電磁兼容測(cè)試，測(cè)量磁場(chǎng)（ H ）

EUT較小，放在大磁環(huán)天線（LLA）中，測(cè)量騷擾磁場(chǎng)的感應(yīng)電流。

EUT較大，采用遠(yuǎn)天線法，用單小環(huán)在規(guī)定距離測(cè)量騷擾的磁場(chǎng)強(qiáng)度。

測(cè)量場(chǎng)所‐開闊場(chǎng)地

測(cè)量場(chǎng)所‐半電波暗室

輻射騷擾測(cè)量天線

輻射騷擾測(cè)量設(shè)備

9kHz‐30MHZ輻射騷擾測(cè)量

30‐1000MHz輻射騷擾測(cè)量

1‐18GHz輻射騷擾測(cè)量

30‐1000MHz輻射騷擾測(cè)量

輻射騷擾場(chǎng)強(qiáng)計(jì)算

F (天線因子) = E/U

用dB值表示為F(dB) = E(dB) – U(dB) ? ?E(dB) = U(dB) + F(dB)

被測(cè)場(chǎng)強(qiáng)E(dB) = 測(cè)量接收機(jī)讀數(shù)U(dB) + 天線系數(shù)F(dB) + 電纜損耗L(dB)

L2 （dB）＝ L1 （dB）+ 20lg（d1/d2）

式中L1和 L2分別為測(cè)試距離為d1 和d2時(shí)的輻射限值

待測(cè)物工作狀態(tài)遵循原則

EUT應(yīng)按設(shè)計(jì)要求在額定（標(biāo)稱）工作電壓和負(fù)載條件（機(jī)械性能和電氣性能）下 運(yùn)行。應(yīng)盡可能使用實(shí)際負(fù)載；

試驗(yàn)程序應(yīng)確保ITE（設(shè)備或系統(tǒng)）中的各個(gè)組成部分能夠運(yùn)行。

浪涌抗擾度試驗(yàn)所依據(jù)的是IEC61000-4-5:2005，對(duì)應(yīng)是GB/T17626.2:200X《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)》。 ? ?浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)就是模擬雷擊帶來(lái)的干擾影響，但需要指出的是，考核設(shè)備電磁兼容性能的浪涌抗擾度試驗(yàn)不同于考核設(shè)備高壓絕緣能力的耐壓試驗(yàn)，前者jj是模擬間接雷擊的影響（直接的雷擊設(shè)備通常都無(wú)法承受）。1.2浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)?zāi)康?? ?本標(biāo)準(zhǔn)的目的是建立一個(gè)共同的基準(zhǔn)，以評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌(沖擊)時(shí)的性能。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一個(gè)一致的試驗(yàn)方法，以評(píng)定設(shè)備或系統(tǒng)對(duì)規(guī)定現(xiàn)象的抗擾度。

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