電子元器件網(wǎng)版印刷的耐腐蝕性如何測試？

電子元器件網(wǎng)版印刷的耐腐蝕性測試通常通過鹽霧試驗法來進行。以下是該測試的簡要步驟和要點：1.**準備階段**:制備5%濃度的氯化鈉（NaCl）溶液，并確保其pH值在6.5至7.2之間以模擬中性環(huán)境。將溶液加熱到35℃，并保持在這個溫度下進行后續(xù)試驗以確保條件的一致性。同時準備好鹽水噴霧裝置或專門的鹽霧箱來進行連續(xù)噴灑操作。2.**設置參數(shù)**:根據(jù)產(chǎn)品要求設定適當?shù)膰姙r間和頻率。一般而言，中性鹽霧腐蝕試驗中常見的持續(xù)時間為96小時或以上；然而對于特定元器件的測試時間可能有所不同，從幾小時直至數(shù)天不等。此外還要確保沉降率符合要求的標準范圍內(nèi)。3.**執(zhí)行測試**:將待測的電子元器件放置在準備好的鹽霧中暴露于連續(xù)的鹽分環(huán)境中進行腐蝕評估。注意監(jiān)控并記錄環(huán)境條件如溫度和濕度等關鍵指標的變化情況以保證數(shù)據(jù)的準確性及可重復性分析的需求。若需長時間監(jiān)測可采用循環(huán)模式即在不同時間段內(nèi)進行周期性開啟與關閉控制以保持恒定的環(huán)境因素變化狀態(tài)供后期數(shù)據(jù)分析使用參考依據(jù)之一。4.**結果判斷與分析**:試驗結束后觀察并分析電子元件表面是否出現(xiàn)銹蝕、氧化或其他形式的劣化現(xiàn)象并記錄下這些觀測到的數(shù)據(jù)用于產(chǎn)品的耐腐蝕性能評價以及后續(xù)的改進工作之中去指導生產(chǎn)實踐活動的順利進行與發(fā)展方向確定的重要依據(jù)來源之一。